کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
749029 | 894804 | 2010 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electron subband structure in strained silicon UTB films from the Hensel–Hasegawa–Nakayama model – Part 1 analytical consideration and strain-induced valley splitting
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Multi-gate FinFETs and ultra-thin silicon body SOI FETs are considered as perfect candidates for future technology nodes. Strong size quantization leads to a formation of quasi-two-dimensional subbands in carrier systems within thin silicon films. The employed Hensel–Hasegawa–Nakayama k·p Hamiltonian accurately describes the bulk structure up to the energies of 0.5–0.8 eV and includes a shear strain component. Shear strain is responsible for effective mass modification and is therefore an important source of the electron mobility enhancement in ultra-thin silicon films. The influence of shear strain on the subband structure in thin silicon films is investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 54, Issue 2, February 2010, Pages 137–142
Journal: Solid-State Electronics - Volume 54, Issue 2, February 2010, Pages 137–142
نویسندگان
Thomas Windbacher, Viktor Sverdlov, Oskar Baumgartner, Siegfried Selberherr,