کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
749385 | 894824 | 2007 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Energy-filtered X-ray photoemission electron microscopy and its applications to surface and organic materials
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Energy-filtered X-ray photoemission electron microscopy (EXPEEM) is a new surface chemical imaging method that combines X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and photoemission electron microscopy (PEEM). We have developed a collinear type EXPEEM system using a Wien-filter-type electron energy analyzer. The collinear arrangement has the advantage of carrying out an easy alignment of the electron optical axis. We have measured EXPEEM images, μ-X-ray absorption near edge structure (μ-XANES) and μ-XPS of Au on Ta and Ag(DM)2. We discuss the advantage of EXPEEM and future applications to organic devices.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 51, Issue 10, October 2007, Pages 1360-1366
Journal: Solid-State Electronics - Volume 51, Issue 10, October 2007, Pages 1360-1366
نویسندگان
Tetsuya Tsutsumi, Takeshi Miyamoto, Hironobu Niimi, Yoshinori Kitajima, Yuji Sakai, Makoto Kato, Toshio Naito, Kiyotaka Asakura,