کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
749442 | 894827 | 2007 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of surface state modeling on the characteristics of InP/GaAsSb/InP DHBTs
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We study the effect of non-ideal surface conditions on the characteristics of submicrometer type-II InP/GaAsSb double heterostructure bipolar transistors (DHBTs) by comparing two-dimensional numerical simulations with measured device characteristics. The inclusion of surface effects in simulations enables excellent agreement with measured Gummel characteristics and measured emitter size effects, and shows that recombination at the emitter mesa periphery on the extrinsic base surface is the major source on non-ideality in device characteristics. The simulations also demonstrate that AlInAs emitters should result in weaker surface recombination and emitter size effects.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 51, Issue 6, June 2007, Pages 995–1001
Journal: Solid-State Electronics - Volume 51, Issue 6, June 2007, Pages 995–1001
نویسندگان
N.G. Tao, H.G. Liu, C.R. Bolognesi,