کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7903917 | 1510473 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the transient amorphous silicon structures during solid phase crystallization
ترجمه فارسی عنوان
در ساختار سیلیکون آمورف گذرا در طی کریستال شدن فاز جامد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
سیلیکون آمورف، کریستال شدن فاز جامد، طیف سنجی رامان، پراش اشعه ایکس در محل، تبدیل فوریه طیف سنجی مادون قرمز،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
چکیده انگلیسی
⺠Nucleation rate during crystallization of amorphous silicon is non-constant. ⺠Bond angle distortion of amorphous silicon increases with the crystal fraction. ⺠Tensile stress in amorphous silicon increases with crystal fraction. ⺠Refractive index could be changing during crystallization. ⺠More attention should be paid to the amorphous silicon during crystallization.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 363, 1 March 2013, Pages 172-177
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 363, 1 March 2013, Pages 172-177
نویسندگان
F. Law, H. Hidayat, A. Kumar, P. Widenborg, J. Luther, B. Hoex,