کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7919782 1511240 2017 24 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging ferroelectric domains via charge gradient microscopy enhanced by principal component analysis
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ شارژر شارژ با استفاده از تحلیل مولفه های اصلی افزایش می یابد
کلمات کلیدی
میکروسکوپ شار مغناطیسی، میکروسکوپ نیروی پی یوزسپس، تجزیه و تحلیل مولفه اصلی، دامنه فرعی غربالگری لیتیم نایوبات،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Materiomics - Volume 3, Issue 4, December 2017, Pages 280-285
نویسندگان
, , ,