کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7919782 | 1511240 | 2017 | 24 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging ferroelectric domains via charge gradient microscopy enhanced by principal component analysis
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ شارژر شارژ با استفاده از تحلیل مولفه های اصلی افزایش می یابد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
میکروسکوپ شار مغناطیسی، میکروسکوپ نیروی پی یوزسپس، تجزیه و تحلیل مولفه اصلی، دامنه فرعی غربالگری لیتیم نایوبات،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Materiomics - Volume 3, Issue 4, December 2017, Pages 280-285
Journal: Journal of Materiomics - Volume 3, Issue 4, December 2017, Pages 280-285
نویسندگان
Ehsan Nasr Esfahani, Xiaoyan Liu, Jiangyu Li,