کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7926307 1512513 2018 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Non-perturbative measurement of evanescent fields
ترجمه فارسی عنوان
اندازه گیری غیر قابل تحمل از زمینه های تبخیر شده
کلمات کلیدی
میکروسکوپ نزدیک به میدان، اندازه گیری غیرمخرب، اندازه گیری تداخل،
ترجمه چکیده
میدان های الکترومغناطیسی اکستنشن که به صورت معکوس با فاصله از سطح سوبسترا تجزیه می شوند به دقت اندازه گیری می شوند زیرا روش تجربی معمولا توزیع را تحریک می کند. ما یک روش غیر تحریکی برای توصیف میدان میدان خیز را با اسکن کردن یک ذره که توسط یک موج موج دوم روشن می شود که الگوی تداخل کنترل را ایجاد می کند، پیشنهاد می کنیم. از آنجایی که همیشه می تواند در ناحیه تاریک حاشیه تداخل قرار گیرد، ذره نور را پراکنده نمی کند و زمینه خاموش کننده را تحریف می کند. ما اصل اندازه گیری را با شبیه سازی های عددی به کار می بریم.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
چکیده انگلیسی
Evanescent electromagnetic fields that decay exponentially with distance from a substrate surface are challenging to measure accurately because the experimental procedure usually perturbs the distribution. We propose a non-perturbative method of characterizing an evanescent field by scanning a particle that is illuminated by a second wavefront that creates a controlled interference pattern. Because it can always be located in a dark region of the interference fringes, the particle does not scatter light and distort the evanescent field. We demonstrate the measurement principle with Finite-difference time-domain numerical simulations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 410, 1 March 2018, Pages 30-34
نویسندگان
, , ,