کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7985434 | 1514816 | 2011 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Length scale dependent yield strength and fatigue behavior of nanocrystalline Cu thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Maxima are observed for both the yield strength and fatigue lifetime in Cu films. ⺠Fatigue damage changes from extrusions to boundary cracks as length scale decreases. ⺠Size-dependent fatigue behaviors are explained by deformation mechanism transition.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volume 528, Issues 25â26, 25 September 2011, Pages 7774-7780
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volume 528, Issues 25â26, 25 September 2011, Pages 7774-7780
نویسندگان
J.Y. Zhang, X. Zhang, G. Liu, R.H. Wang, G.J. Zhang, J. Sun,