کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8031815 | 1517674 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Young modulus and Poisson ratio measurements of TiO2 thin films deposited with Atomic Layer Deposition
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Young modulus and Poisson ratio of TiO2 thin films prepared by ALD are measured. ⺠XRD measurements are performed at Synchrotron applying different tensile stress loads. ⺠Experimental values are in very good agreement with theoretical predicted ones.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 206, Issues 8â9, 15 January 2012, Pages 2459-2463
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 206, Issues 8â9, 15 January 2012, Pages 2459-2463
نویسندگان
L. Borgese, M. Gelfi, E. Bontempi, P. Goudeau, G. Geandier, D. Thiaudière, L.E. Depero,