کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037608 | 1518284 | 2018 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A position-controllable external stage for critical dimension measurements via low-noise atomic force microscopy
ترجمه فارسی عنوان
یک مرحله خارجی کنترل موقعیت برای اندازه گیری اندازه انتقادی از طریق میکروسکوپ نیروی اتمی کم صدا
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 194, November 2018, Pages 48-56
Journal: Ultramicroscopy - Volume 194, November 2018, Pages 48-56
نویسندگان
Moon Seunghyun, Kim Jung-Hwan, Kim Ju-Hwang, Kim Youn Sang, Shin ChaeHo,