کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی ترجمه فارسی نسخه تمام متن
8037610 1518284 2018 14 صفحه PDF سفارش دهید دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Wavelet transform-based electron tomography measurement of buried interface roughness
ترجمه فارسی عنوان
اندازه گیری توموگرافی الکترون بر مبنای تبدیل شکل موج زبری رابط ذخیره شده
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
سفارش ترجمه تخصصی
با تضمین قیمت و کیفیت
خدمات تولید محتوا

این مقاله ISI می تواند منبع ارزشمندی برای تولید محتوا باشد.

  • تولید محتوا برای سایت و وبلاگ
  • تولید محتوا برای کتاب
  • تولید محتوا برای نشریات و روزنامه ها
  • و...

پایگاه «دانشیاری» آمادگی دارد با همکاری مجموعه «شهر محتوا» با استفاده از این مقاله علمی، برای شما به زبان فارسی، تولید محتوا نماید.

تولید محتوا
با 10 درصد تخفیف ویژه دانشیاری
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Interface roughness is a critical parameter determining the performance of semiconductor devices. We show that a continuous wavelet transform is useful to describe not only the magnitude of the interface roughness, but also the spatial frequencies that describe the interface. We propose a simple presentation of the results that makes it convenient to compare between interfaces. In particular, an average and maximum value wavelet profile that is obtained from a series of one dimensional wavelet transforms provides a traceable and quick survey of the results. We demonstrate the wavelet transform method using both computer simulations and by applying it to experimental data obtained by electron tomography of a test sample and to a molecular layer interface. Wavelet descriptions of the interface roughness suffers less from the presence of shot noise in the experimental data than the traditional root mean square error description of interface roughness. An increase in lateral dimensions of an interface that has large features increases the content of low spatial frequencies in wavelet transforms. In comparison, the value of root mean square error increases in an untraceable manner with the same increase in lateral dimensions on the same interface. Morse wavelets with γ = 9 and β = 3 appear to be a suitable choice for applications in interface roughness measurement.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 194, November 2018, Pages 64-77
نویسندگان
, , ,
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
سفارش ترجمه تخصصی
با تضمین قیمت و کیفیت