Towards quantitative mapping of the charge distribution along a nanowire by in-line electron holography

نقشه برداری توزیع شارژ در سیستم های مقیاس نانو هنوز کار دشواری است، اما برای ارائه بینش اساسی در مورد خواص مواد مهم است. ما نشان می دهیم که چگونه هولوگرافی درون خطی در میکروسکوپ الکترونی انتقال می تواند برای استخراج توزیع شار در نانوسیم به روش کمی استفاده شود. این تکنیک می تواند به سرعت جذب تغییرات شایسته ظاهر شود. با استفاده از امکان های میکروسکوپ الکترونی در محل، تغییرات زمینه خارجی می تواند برای تنظیم توزیع شارژ مورد استفاده قرار گیرد. از آنجا که پاسخ سریع به تغییرات شارژ، این روش یک ابزار تحقیق کارآمد برای تشخیص پراکندگی بار پویا فراهم می کند.