Mechanical characterization of porous nano-thin films by use of atomic force acoustic microscopy

مقادیر مدول انتگرال برای فیلمهای نازک از شیشه های متخلخل آلیاژلایت به دلیل کاهش ضخامت فیلم افزایش می یابد. سختی مشاهده شده برای فیلم های متخلخل می تواند با تکامل توپولوژی منافذ به عنوان تابع ضخامت فیلم توضیح داده شود. برای اطمینان از اینکه نتایج ما از تاثیر سوبسترا آزاد بود، نسبت دینامیک نمونه و همچنین شعاع نوک را به ضخامت فیلم بررسی کردیم. نتایج به دست آمده برای پارامتر سوبسترا برای تمام سری های اندازه گیری مقایسه شد و نشان داد که کدامیک از آنها می تواند بدون تاثیر سوبسترا اعلام شود.