کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038529 | 1518362 | 2012 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
State of the art in atomic resolution off-axis electron holography
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Impact of the brightness on the reconstructed signal in electron holography. ⺠Factor 2.8 gain in signal quality by setup with a high brightness electron gun. ⺠Investigation of a grain boundary in gold with a state-of-the-art holography setup. ⺠A-posteriori aberration fine-tuning for true one Angstrom resolution in the object wave. ⺠Mistilt analysis on the atomic scale by numerical wave optics.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 13-23
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 13-23
نویسندگان
Martin Linck, Bert Freitag, Stephan Kujawa, Michael Lehmann, Tore Niermann,