کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038548 | 1518362 | 2012 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Paraxial charge compensator for electron cryomicroscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠A multi-hole condenser aperture produces multiple (paraxial) beams in TEM. ⺠Paraxial charge compensation is used to study electron-optical effects of charging. ⺠Emission of secondary electrons controls charging by a through space mechanism. ⺠Paraxial beams compensate for charging effects in frozen-hydrated specimens.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 106-114
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 106-114
نویسندگان
John A. Berriman, Peter B. Rosenthal,