کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038550 | 1518362 | 2012 | 20 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Precise and unbiased estimation of astigmatism and defocus in transmission electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Unbiased and precise defocus and astigmatism estimation with related uncertainties. ⺠The background in the PSD is suppressed by adaptive filtering. ⺠Robust template matching in polar representation detects also very low astigmatism. ⺠Outlier rejection of detected rings based on equidistance of CTF zeros in q2-space. ⺠Thon ring averaging (with Cs influence) can enhance the SNR of the rings in 1D PSD.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 115-134
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 115-134
نویسندگان
MiloÅ¡ VuloviÄ, Erik Franken, Raimond B.G. Ravelli, Lucas J. van Vliet, Bernd Rieger,