کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8038585 1518366 2011 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A new approach for 3D reconstruction from bright field TEM imaging: Beam precession assisted electron tomography
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
A new approach for 3D reconstruction from bright field TEM imaging: Beam precession assisted electron tomography
چکیده انگلیسی
► Electron beam precession reduces spurious diffraction contrast in bright field mode. ► Bend contour related contrast depends on precession angle. ► Electron beam precession is combined with bright field electron tomography. ► Precession assisted BF tomography allowed 3D reconstruction of a Sn precipitate.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issues 9–10, August–October 2011, Pages 1504-1511
نویسندگان
, , , , ,