کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038585 | 1518366 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A new approach for 3D reconstruction from bright field TEM imaging: Beam precession assisted electron tomography
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: A new approach for 3D reconstruction from bright field TEM imaging: Beam precession assisted electron tomography A new approach for 3D reconstruction from bright field TEM imaging: Beam precession assisted electron tomography](/preview/png/8038585.png)
چکیده انگلیسی
⺠Electron beam precession reduces spurious diffraction contrast in bright field mode. ⺠Bend contour related contrast depends on precession angle. ⺠Electron beam precession is combined with bright field electron tomography. ⺠Precession assisted BF tomography allowed 3D reconstruction of a Sn precipitate.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issues 9â10, AugustâOctober 2011, Pages 1504-1511
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issues 9â10, AugustâOctober 2011, Pages 1504-1511
نویسندگان
J.M. Rebled, Ll. Yedra, S. Estradé, J. Portillo, F. Peiró,