کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8041045 | 1518675 | 2015 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Backscattered helium spectroscopy in the helium ion microscope: Principles, resolution and applications
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنجی هلیوم پشتی در میکروسکوپ یونی هلیوم: اصول، قطعنامه و برنامه های کاربردی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
میکروسکوپ یون هلیوم، پراکندگی یون طیف سنجی برگشت رادرفورد،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
چکیده انگلیسی
We demonstrate the possibilities and limitations for microstructure characterization using backscattered particles from a sharply focused helium ion beam. The interaction of helium ions with matter enables the imaging, spectroscopic characterization, as well as the nanometer scale modification of samples. The contrast that is seen in helium ion microscopy (HIM) images differs from that in scanning electron microscopy (SEM) and is generally a result of the higher surface sensitivity of the method. It allows, for instance, a much better visualization of low-Z materials as a result of the small secondary electron escape depth. However, the same differences in beam interaction that give HIM an edge over other imaging techniques, also impose limitations for spectroscopic applications using backscattered particles. Here we quantify those limitations and discuss opportunities to further improve the technique.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 344, 1 February 2015, Pages 44-49
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 344, 1 February 2015, Pages 44-49
نویسندگان
R. van Gastel, G. Hlawacek, S. Dutta, B. Poelsema,