کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8149276 | 1524375 | 2016 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of grain structure evolution based on optical measurements of mc Si wafers
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل تکاملی ساختار دانه بر اساس اندازه گیری های نوری سی دی سی ویفر
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
چکیده انگلیسی
It is found that the share of twin grains increases with brick height in high-performance mc (HPM) silicon with fine-granular seeds from almost zero up to about 15% whereas it remains rather constant over the whole brick height in standard mc-Si. The results of the investigated bricks show clearly that towards the brick top, the material differences in grain size decrease. This suggests that an energetically favorable state may exist for grain structure development.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 454, 15 November 2016, Pages 147-155
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 454, 15 November 2016, Pages 147-155
نویسندگان
Theresa Strauch, Matthias Demant, Patricia Krenckel, Stephan Riepe, Stefan Rein,