کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8174360 | 1526351 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Statistics and methodology of multiple cell upset characterization under heavy ion irradiation
ترجمه فارسی عنوان
آمار و روش شناسایی ویژگی های تخریب چند سلولی تحت اشعه یون های سنگین
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
اثرات رویداد تک، خرابی های چندگانه، سلول حافظه، یون های سنگین سطح مقطع، انتقال انرژی خطی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
چکیده انگلیسی
Mean and partial cross-section concepts and their connections to multiplicity and statistics of multiple cell upsets (MCUs) in highly-scaled digital memories are introduced and discussed. The important role of the experimental determination of the upset statistics is emphasized. It was found that MCU may lead to quasi-linear dependence of cross-sections on linear energy transfer (LET). A new form of function for interpolation of mean cross-section dependences on LET has been proposed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 775, 1 March 2015, Pages 41-45
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 775, 1 March 2015, Pages 41-45
نویسندگان
G.I. Zebrev, M.S. Gorbunov, R.G. Useinov, V.V. Emeliyanov, A.I. Ozerov, V.S. Anashin, A.E. Kozyukov, K.S. Zemtsov,