کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8251595 | 1533481 | 2018 | 17 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Concept development of X-ray mass thickness detection for irradiated items upon electron beam irradiation processing
ترجمه فارسی عنوان
توسعه مفهوم تشخیص ضخامت توده ی جرم اشعه ایکس برای مواد مورد استفاده در پردازش تابش الکترون پرتو
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
تصویربرداری اشعه ایکس، ضخامت جرم، الگوریتم، توزیع دوز پیش بینی دوز،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
تشعشع
چکیده انگلیسی
The present project will adopt the principle and technology of X-ray imaging to quickly measure the mass thickness (wherein the mass thickness of the item =density of the item à thickness of the item) of the irradiated items and thus to determine whether the packaging size and inside location of the item will meet the requirements for treating thickness upon electron beam irradiation processing.268
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Radiation Physics and Chemistry - Volume 143, February 2018, Pages 8-13
Journal: Radiation Physics and Chemistry - Volume 143, February 2018, Pages 8-13
نویسندگان
Huaili Qin, Guang Yang, Shan Kuang, Qiang Wang, Jingjing Liu, Xiaomin Zhang, Cancan Li, Zhiwei Han, Yuanjing Li,