کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8252360 1533508 2015 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Application of X-ray fluorescence in an investigation of photographic heritage
ترجمه فارسی عنوان
کاربرد فلورسانس اشعه ایکس در تحقیق میراث عکاسی
کلمات کلیدی
تجزیه و تحلیل فلورسنت اشعه ایکس، آشکارساز سیلیکون، عکس ها، طیف سنجی مادون قرمز،
ترجمه چکیده
تجزیه و تحلیل فلورسنت اشعه ایکس با استفاده از تابش یونیزه برای مطالعه ترکیب عنصر مواد. به طور گسترده ای برای بسیاری از اهداف مورد استفاده قرار می گیرد، از جمله مطالعات مختلف فرهنگی و تاریخی و اشیاء هنری. این مقاله تجربه ما را با تجزیه و تحلیل فلورسنت اشعه ایکس خلاصه کرده و طیف سنجی مادون قرمز را برای بررسی بازتابی کامل فوریه تضعیف کرده و در تحقیق از عکس های تاریخی با استفاده از دستگاه های اسپکتروسکوپی قابل حمل. نتایج این اندازه گیری ها اطلاعاتی در مورد ترکیب عکس های تاریخی و تونینگ آنها ارائه می دهد. آنها می توانند برای مقایسه پردازش های مورد استفاده در ساخت عکس ها، برای ارزیابی کیفیت کاغذ و در بسیاری موارد برای اطلاعات در مورد نحوه تعمیر قطعات آسیب دیده مورد استفاده قرار گیرد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم تشعشع
پیش نمایش مقاله
کاربرد فلورسانس اشعه ایکس در تحقیق میراث عکاسی
چکیده انگلیسی
X-ray fluorescence analysis uses ionizing radiation to study the elemental composition of materials. It is widely used for many purposes, including studies of various cultural and historic relicts and objects of art. This paper summarizes our experience with X-ray fluorescence analysis and attenuated total reflectance Fourier transform infrared spectroscopy in investigating historical photographs by means of portable spectroscopic devices. The results of these measurements provide information about the composition of historical photographs and their toning. They can be used for comparing the processes used in fabricating the photographs, for assessing the quality of the paper and, in many cases, for information about how to repair damaged parts.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Radiation Physics and Chemistry - Volume 116, November 2015, Pages 8-13
نویسندگان
, , , , ,