کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
848176 | 909238 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A novel algorithm based on histogram processing of reliability for two-dimensional phase unwrapping
ترجمه فارسی عنوان
یک الگوریتم جدید بر اساس پردازش هیستوگرام از قابلیت اطمینان برای باز کردن فاز دو بعدی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
باز کردن فاز، تجزیه و تحلیل حاشیه، هولوگرافی دیجیتال
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی (عمومی)
چکیده انگلیسی
A fast approach for two-dimensional phase unwrapping is presented. Reliability functions with fixed value range are defined for pixels and edges. Through histogram statistics for reliability values of edges, all edges are allocated to the corresponding subintervals of histogram. The proposed algorithm unwraps the phase subinterval by subinterval and for each subinterval edge by edge. A number of simulated and experimental results show that the proposed algorithm reacts satisfactorily to random noise and discontinuities in the wrapped phase distribution. The execution time of this algorithm is less than 60 ms for an image size of 800 × 800 pixels on a PC system generally. This algorithm can achieve quasi-real-time performance.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optik - International Journal for Light and Electron Optics - Volume 126, Issue 18, September 2015, Pages 1640–1644
Journal: Optik - International Journal for Light and Electron Optics - Volume 126, Issue 18, September 2015, Pages 1640–1644
نویسندگان
Hai Lei, Xin-yu Chang, Fei Wang, Xiao-Tang Hu, Xiao-Dong Hu,