کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9572465 | 1503708 | 2005 | 18 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ion-, photoelectron- and laser-assisted analytical investigation of nano-structured mixed HfO2-SiO2 and ZrO2-SiO2 thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The information obtained by the different analytical methods demonstrated the formation of a homogeneous in-depth nanocomposition of the thin films, which would be suitable for frontier applications.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 249, Issues 1â4, 15 August 2005, Pages 277-294
Journal: Applied Surface Science - Volume 249, Issues 1â4, 15 August 2005, Pages 277-294
نویسندگان
L. Armelao, D. Bleiner, V. Di Noto, S. Gross, C. Sada, U. Schubert, E. Tondello, H. Vonmont, A. Zattin,