کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9614889 48556 2005 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Materials characterization by X-ray photoelectron spectroscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی شیمی کاتالیزور
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Materials characterization by X-ray photoelectron spectroscopy
چکیده انگلیسی
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is one of the most used surface analysis techniques for the characterization of materials, including those used as catalysts.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Molecular Catalysis A: Chemical - Volume 228, Issues 1–2, 16 March 2005, Pages 145-150
نویسندگان
,