کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9671911 | 1450490 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Direct electrical measurement of the electron g factor in ultra-thin InGaAs/InP single quantum wells
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The Landé g factor has been measured for electrons in ultra-thin InGaAs/InP quantum wells by means of an electrically-detected electron spin resonance (EDESR) technique. These experiments, carried out in a range of applied magnetic fields, allowed direct, unambiguous determination of both the absolute value and sign of the normal component of the electron g factor, g⥠(g parallel to the structure growth axis and the magnetic field). We observed a linear magnetic field dependence to the g factor, in agreement with the expression gâ¥(B,N)=gâ¥0+c(N+1/2)B, where N is the Landau level index.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issues 3â6, MarchâJune 2005, Pages 379-382
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issues 3â6, MarchâJune 2005, Pages 379-382
نویسندگان
E.T. Croke, R.N. Schwartz, B. Shi, A.A. Narayanan, A.A. Kiselev, M.F. Gyure,