کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9774255 | 1508510 | 2005 | 152 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
PEIAFMLPSSDSCMCCTABPTFEPDMSPAHDMAPVPSEDSDLVOPSSPAAPSDDGDGMGDGmonogalactosyldiacylglycerolPLAHSASAMPMCSTMPFMCSHSFADMTAOTFJCPSUPBAWLCSNOMDOPSDOPCPVDDOTAPDSPEDTABOTSDDAB1,2-Distearoyl-sn-glycero-3-phosphoethanolaminePDADMACUHVHOPGDODABOctadecyltrichlorosilaneTIRMPMAABis(2-ethylhexyl)sulfosuccinateTTABJKRDSCGPoly(sodium styrenesulfonate)PBMAPulsed force mode1,2-dioleoyl-sn-glycero-3-phospho-l-serineMEMS - فناوری میکرو الکترومکانیکی1,2-dioleoyl-sn-glycero-3-phosphocholine - 1،2-dioleoyl-sn-glycero-3-phosphocholineBSA - BSADNA - DNA یا اسید دزوکسی ریبونوکلئیکPosition sensitive detector - آشکارساز حساس موقعیتhuman serum albumin - آلبومین سرم انسانیbovine serum albumin - آلبومین سرم گاوEDTA - اتیلن دی آمین تترا استیک اسید Ethylenediaminetetraacetic acid - اتیلینیدامین تتراستیک اسیدTem - این استDynamical mechanical analysis - تجزیه و تحلیل مکانیکی دینامیکیSelf-assembled monolayer - تک لایه ی خودمختارUltra-high vacuum - خلاء فوق العاده بالاSurface forces apparatus - دستگاه نیروی سطحdodecyltrimethylammonium bromide - دودکیل تریمتیل آمونیوم برومیدDisodium cromoglycate - دی آمید کروموگلکاتMolecular dynamics - دینامیک ملکولی یا پویایی مولکولیPhysical Vapor Deposition - رسوب فیزیکی بخارFreely jointed chain - زنجیر آزادانهWormlike chain - زنجیر کرملینsodium dodecylsulfate - سدیم دودسیل سولفاتMicro-electromechanical systems - سیستم های میکرو الکترومکانیکیX-ray photoelectron spectroscopy - طیف سنجی فوتوالکتر اشعه ایکسXPS - طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکسLipopolysaccharides - لیپوپلی ساکارید هاSEM - مدل معادلات ساختاری / میکروسکوپ الکترونی روبشیMelamine formaldehyde - ملامین فرمالدئیدForce curves - منحنی های نیرویscanning electron microscope - میکروسکوپ الکترونی اسکنTransmission electron microscope - میکروسکوپ الکترونی انتقالTotal internal reflection microscopy - میکروسکوپ بازتاب داخلیScanning tunneling microscope - میکروسکوپ تونلی اسکن کردنScanning near-field optical microscope - میکروسکوپ نور نوری نزدیک به میدان را اسکن می کندAtomic Force Microscope - میکروسکوپ نیروی اتمیpolyelectrolyte microcapsules - میکروکپسولهای پلی الکترولیتیSurface forces - نیروهای سطحCalcium silicate hydrate - هیدرات کلسیم سیلیکاتPoly(tetrafluoroethylene) - پلی (تترا فلوئور اتیلن)poly(dimethylsiloxane) - پلی (دی متیل سیلوکسان)PMMA - پلی (متیل متاکریلات) polyethylene glycol - پلی اتیلن گلیکولpolyethyleneimine - پلی اتیلنیمینpoly(acrylic acid) - پلی اکریلیک اسیدPolylactic acid - پلی لاکتیک اسید یا اسید پلیلاکتیکPEG - پلیاتیلن گلیکول DOPE - پیش بینی کردنPEO - پیوHighly oriented pyrolytic graphite - گرافیت بسیار متخلخل pyrolytic
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
After the review of Cappella [B. Cappella, G. Dietler, Surf. Sci. Rep. 34 (1999) 1-104] 6 years of intense development have occurred. In 1999, the AFM was used only by experts to do force measurements. Now, force curves are used by many AFM researchers to characterize materials and single molecules. The technique and our understanding of surface forces has reached a new level of maturity. In this review we describe the technique of AFM force measurements. Important experimental issues such as the determination of the spring constant and of the tip radius are discussed. Current state of the art in analyzing force curves obtained under different conditions is presented. Possibilities, perspectives but also open questions and limitations are discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science Reports - Volume 59, Issues 1â6, October 2005, Pages 1-152
Journal: Surface Science Reports - Volume 59, Issues 1â6, October 2005, Pages 1-152
نویسندگان
Hans-Jürgen Butt, Brunero Cappella, Michael Kappl,