کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9809473 | 1517710 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural and optical investigations of SiOxNy thin films deposited by R.F. sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Finally, the variation of the film composition induces modifications of its refractive index and optical gap.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 200, Issues 1â4, 1 October 2005, Pages 330-333
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 200, Issues 1â4, 1 October 2005, Pages 330-333
نویسندگان
F. Rebib, E. Tomasella, M. Dubois, J. Cellier, T. Sauvage, M. Jacquet,