کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9818137 | 1518776 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of ion irradiation on the evolution of Pt film morphology
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD) analysis have been used to characterize ion-irradiated-and-annealed surface structures of Pt thin films deposited on SiO2 glass substrates. The surface morphology of the Pt films is found to be strongly dependent on ion irradiation conditions. A Pt film composed of grains of approximately 1 μm diameter with a smooth surface is successfully prepared by an appropriate combination of ion irradiation and annealing. The Pt film shows a preferential (1 1 1) orientation parallel to the substrate surface.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 232, Issues 1â4, May 2005, Pages 348-352
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 232, Issues 1â4, May 2005, Pages 348-352
نویسندگان
Shunichi Hishita, Isao Sakaguchi, Naoki Ohashi, Noriko Saito, Hajime Haneda,