کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9818430 | 1518780 | 2005 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Bayesian reconstruction of surface roughness and depth profiles
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Bayesian data analysis provides a consistent probabilistic theory for the extraction of sample parameters from spectra measured with MeV ion beam analysis methods. The application of Bayesian data analysis is demonstrated on three different examples, namely the deconvolution of the apparatus function for improving the energy resolution of solid state detectors, the reconstruction of depth profiles of individual elements with confidence intervals from Rutherford backscattering measurements, and the reconstruction of surface-roughness distributions using Rutherford backscattering.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 228, Issues 1â4, January 2005, Pages 349-359
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 228, Issues 1â4, January 2005, Pages 349-359
نویسندگان
M. Mayer, R. Fischer, S. Lindig, U. von Toussaint, R.W. Stark, V. Dose,