کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9829910 | 1524500 | 2005 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Improved PbZr0.52Ti0.48O3 film quality on SrRuO3/SrTiO3 substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We have used high-pressure on-axis sputtering to deposit single crystalline epitaxial PbZr0.52Ti0.48O3 either on SrRuO3/SrTiO3 or on SrTiO3 substrates. The PbZr0.52Ti0.48O3 films possess a small mosaicity on both, on SrRuO3/SrTiO3 and on SrTiO3 substrates. PbZr0.52Ti0.48O3 thin films have a larger out-of-plane lattice parameter and a smaller in-plane lattice parameter when it is grown on SrRuO3/SrTiO3 substrates. Atomic force microscopy reveals very smooth surfaces. The stoichiometry has been verified by Rutherford backscattering spectrometry. Channeling measurements indicate that the crystalline quality of the PbZr0.52Ti0.48O3 films grown on SrRuO3/SrTiO3 substrate is significantly improved compared to its deposition on blank SrTiO3 substrates. This observation is discussed in the framework of lattice mismatch, thermal expansion coefficients, interdiffusion at the PbZr0.52Ti0.48O3/SrRuO3 interface, the depolarization field in the ferroelectrics and the surface layer termination of the substrate.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 277, Issues 1â4, 15 April 2005, Pages 210-217
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 277, Issues 1â4, 15 April 2005, Pages 210-217
نویسندگان
J. RodrÃguez Contreras, H. Kohlstedt, A. Petraru, A. Gerber, B. Hermanns, H. Haselier, N. Nagarajan, J. Schubert, U. Poppe, Ch. Buchal, R. Waser,