کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9837931 | 1525286 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Towards polarization analysis on a thermal time-of-flight spectrometer
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Making real the ambition of performing polarization analysis on a thermal time-of-flight (TOF) spectrometer has been under discussion for several years. Recent developments at the ILL have brought this goal closer and we are now confident that full XYZ-PA can be installed on the existing thermal TOF spectrometer IN4 at ILL. We present here a brief discussion of these developments and highlight the methods foreseen in order to arrive at Polarization AnalysiS on a Thermal tof Inelastic Spectrometer (PASTIS).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 356, Issues 1â4, 15 February 2005, Pages 146-149
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 356, Issues 1â4, 15 February 2005, Pages 146-149
نویسندگان
John A. Stride, Ken H. Andersen, Amir P. Murani, Hannu Mutka, Helmut Schober, J. Ross Stewart,