کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9841531 | 1525792 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of annealing time on the structure and properties of YBCO films by the TFA-MOD method
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We systematically investigated the effect of high-temperature annealing time on the structure and properties of YBCO films prepared by the TFA-MOD method. Critical current density (Jc) was measured using jc-scan Leipzig system to compare the electrical properties of the films. SEM and XRD were used to determine the microstructure and orientation of the films. The partially crystallized films have rough surfaces and impurity phases which attribute to poor electrical performance. In contrast, completely crystallized films have smooth surfaces, pure (0Â 0Â 1) YBCO phase, and exhibit high electrical performance with Jc values over 3Â MA/cm2 (77Â K, 0Â T) and ÎTc lower than 1Â K.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica C: Superconductivity - Volume 432, Issues 3â4, 15 November 2005, Pages 147-152
Journal: Physica C: Superconductivity - Volume 432, Issues 3â4, 15 November 2005, Pages 147-152
نویسندگان
X.M. Cui, B.W. Tao, J. Xiong, X.Z. Liu, J. Zhu, Y.R. Li,