دانلود مقالات ISI درباره 66.30.ny + ترجمه فارسی

High-temperature application of the low-emissivity Au/Ni films on alloys

Keywords: 81.05.−t; 61.80.Ba; 68.60.−p; 66.30.Ny; Low emissivity; Diffusion barrier; Au/Ni multilayer films; High-temperature application;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Effects of annealing time on infrared emissivity of the Pt film grown on Ni alloy

Keywords: 81.05.zx; 61.80.Ba; 68.60.−p; 66.30.Ny; Low-emissivity layer; Platinum film; Sputter-deposited; Annealing time;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Atomic-scale mechanisms for diffusion of impurities in transition-metal nitrides

Keywords: 66.30.Ny; 66.30.J-; 68.55.Ln; Ab initio; Diffusion; Barrier; Nitrides; Transition-metal; Activation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Optimizing the growth of CoSi2 film with oxide-mediated CoSi2 template by silicon cap layer

Keywords: 68.35.Ct; 81.15.Hi; 66.30.Ny; 61.10.Kw; A1. Characterization; A1. X-ray diffraction; A3. Solid phase epitaxy; B2. Semiconducting materials;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Non-crystalline Zr–Si diffusion barrier for Cu/Si contact system under different sputtering power

Keywords: 81.15.Cd; 66.30.Ny; 85.40.Ls; 68.35.NpAlloys; Transition metals; Sputtering; Surfaces and interfaces

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

A time dependent model to study the effect of surface roughness on reactive–diffusive transport in porous media

Keywords: 68.55.-a; 68.55.AC; 66.30.-h; 66.30.Jt; 66.30.Ny

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Mechanism of deleading of silicate glass by 0.5 N HNO3

Keywords: 61.43.Fs; 64.70.ph; 66.30.h; 66.30.Ny; 82.30.b; 82.39.WjChemical durability; Ion exchange; Diffusion and transport; Silicates

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Ru thin film grown on TaN by plasma enhanced atomic layer deposition

Keywords: 66.30.Ny; 81.15.GhAtomic layer deposition; Ru; Tatalum nitride; Diffusion barrier; X-ray diffraction; Transmission electron microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Characterization of the interaction layer grown by interdiffusion between U–7wt%Mo and Al A356 alloy at 550 and 340 °C

Keywords: 28.50.Dr; 61.10.Nz; 66.30.Ny

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Interdiffusion between U(Mo,Pt) or U(Mo,Zr) and Al or Al A356 alloy

Keywords: 28.50.Dr; 61.10.Nz; 66.30.Ny

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Variational method applied to determine the lattice parameter profiles in semiconductor heterostructures

Keywords: 62.25.−g; 61.46.−w; 66.30.Ny; Semiconductor nanostructures; Elasticity continuum theory; Substrate orientation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Phosphorous doped Ru film for advanced Cu diffusion barriers

Keywords: 85.40.Ls; 66.30.Ny; 68.55.a; Diffusion barrier; Ruthenium; Doped ruthenium; Copper interconnect; Copper metallization;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

An application of Au thin-film emissivity barrier on Ni alloy

Keywords: 81.05.zx; 61.80.Ba; 68.60.−p; 66.30.Ny; Emissivity barrier; Au film; Interdiffusion;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Copper diffusion in TaN-based thin layers

Keywords: 85.40.Ls; 66.30.Ny; 66.30.Xj; Tantalum nitride; Reactive sputtering; Microstructure; Diffusion; In situ glancing analysis;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Aluminum-boro-silicate glasses for ion exchange: Characterization and influence of diffusion non-linearity

Keywords: 42.70.C; 66.30.Ny; 42.79.R; 42.79.B; Ion exchange; Diffusion and transport; Oxide glasses;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Pulsed microwave plasma polymerization of silicon oxide films: Application of efficient permeation barriers on polyethylene terephthalate

Keywords: 52.50.Sw; 66.30.Ny; 81.15.Gh; 81.05.Je; 81.05.LgSilicon oxide; Permeation barrier; PET; PECVD; Oxygen permeability

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Phase-field simulation of interdiffusion microstructure containing fcc-γ and L12-γ′ phases in Ni–Al diffusion couples

Keywords: 61.66.Dk; 64.70.kd; 66.30.Ny; 81.05.Bx; 82.20.wt; 82.60.LfNickel alloys; Interdiffusion; Microstructure; Phase-field model

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Interdiffusion of polydisperse Mw distributions subsequent to proton irradiation of PS melts

Keywords: 61.41.+e; 66.30.Ny; 66.10.Cb; 68.35.Fx; 68.49.−hPolymer diffusion; Irradiation of polymers; Radiation induced main chain scission; Polymer networks; Molecular weight distribution

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Oxidation resistance of SiAlCN: H-coatings

Keywords: 62.20.Qp; 66.30.Ny; 81.15.Cd; 81.65.MqPVD; Mechanical properties; Oxidation resistance; Silico-aluminum carbonitride; Thin film

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Diffusion and adsorption behavior of Si adatom on defect-induced H-terminated Si(0 0 1) surfaces

Keywords: 61.72.Tt; 66.30.Ny; 68.35.Md; 71.15.PdH-terminated silicon surface; SDV; Adsorption; Diffusion; Empirical tight-binding method

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Investigation of interdiffusion in copper–nickel bilayer thin films

Keywords: 61.10.Nz; 66.30.Ny; 79.60.DpDiffusion; Copper; Nickel; Thin films; Auger depth profiling

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

A new theoretical approach to the encapsulation of small molecules in zeolites

Keywords: 82.75.−z; 68.43.De; 66.30.Ny; Encapsulation; Cs3Na9-A zeolite; Potential energy surface; Fermi-Dirac like statistics; Activation energy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Effect of film thickness on the breakdown temperature of atomic layer deposited ultrathin HfO2 and Al2O3 diffusion barriers in copper metallization

Keywords: 85.40.Ls; 66.30.Ny; 61.05.cpA1. Diffusion; A1. Nanostructures; A1. X-ray diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Characterization of heterogeneous SiO2 materials by scanning electron microscope and micro fluorescence XAS techniques

Keywords: 61.10.Ht; 61.43.Hv; 61.43.Fs; 66.30.Ny; Micro XANES; Micro fluorescence; ESEM; Heterogeneous material; SiO2 reactivity; Cations mobility;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Surface morphology and reaction at Cu/Si interface-Effect of native silicon suboxide

Keywords: 66.30.Ny; 82.80.Yc; 68.37.Hk; 68.55.Jk; 85.40.Ls; Copper; Copper silicides; Silicon suboxide; Solid-state reaction; Morphology;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

The effect of RO (R = Mg, Ca, Ba and Zn) on physical properties of Na2O/Al2O3/B2O3/SiO2 glasses for the preparation of gradient index micro lenses

Keywords: 78.20.Ci; 66.30.Hs; 66.30.Ny; 81.50.KfIon exchange; Conductivity; Optical properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Epitaxial growth of BaTiO3 thin films at a low temperature under 300 °C with temperature-controlled BaTiO3 buffer layer

Keywords: 79.60.Jv; 66.30.Ny; 61.14.HgA1. Atomic force microscopy; A1. Buffer layer; A1. Reflection high-energy electron diffraction; A3. Laser molecular beam epitaxy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Control of photoluminescence wavelength from uniform InAs quantum dots by annealing

Keywords: 61.72.c; 66.30.Ny; 73.20.Dx; 78.55.-m; 78.55.Et; 81.15.Hi; InAs; Quantum dot; Photoluminescence; Molecular beam epitaxy; GaAs; Interdiffusion; Post-growth annealing;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Investigation of ultrathin tantalum based diffusion barrier films using AES and TEM

Keywords: 61.16.−d; 66.30.Ny; AES; TEM; Tantalum nitride; Diffusion barrier; Plasma immersion ion implantation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Inter-diffusion study of rhodium and tantalum by RBS

Keywords: 66.30.Ny; 68.35.Fx; Diffusion barrier; High temperature; Rh; RBS;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Characterization of thin Ta-Si-Nx layers of different nitrogen content using XPS, UPS and STM

Keywords: 82.80.Pv; 61.16.Ch; 66.30.Ny; Photoelectron spectroscopy; Scanning tunnelling microscopy; Barrier systems; Tantalum-based layers;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Mechanism of photoluminescence blue shift in InGaAsN/GaAs quantum wells during annealing

Keywords: 78.55.Et; 81.15.Hi; 68.65.fg; 66.30.Ny; 61.43.−j; A1. Inter-diffusion; A1. Short-range ordered; A3. Molecular beam epitaxy; A3. Quantum well; B1. Dilute nitride;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Diffusion barrier performances of thin Mo, Mo-N and Mo/Mo-N films between Cu and Si

Keywords: 85.40.Ls; 66.30.Ny; 68.55.-a; Diffusion barrier; Sputtering; Copper metallization; Molybdenum;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Limits of applicability of the “diffusion-controlled product growth” kinetic approach to modeling SHS

Keywords: 81.20.Ka; 66.30.Ny; 81.05.Je; 82.30.−b; Self-propagating high-temperature synthesis (SHS); Reaction diffusion; Kinetics; Modeling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 18 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه