دانلود مقالات ISI درباره 82.80.p + ترجمه فارسی

Exchange of angular momentum in EMCD experiments

Keywords: 82.80.P; 61.16.B; 32.80.Cy; Electron energy loss spectrometry; Transmission electron microscopy; Circular dichroism; Coherence;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Optimal aperture sizes and positions for EMCD experiments

Keywords: 82.80.P; 61.16.B; 32.80.CyElectron energy loss spectrometry; Transmission electron microscopy; Circular dichroism; Coherence

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Magnetic, electronic and structural properties of ZnxFe3−xO4

Keywords: 79.60; 82.80.P; 75.50.G; 75.50; XPS; AES; ZnxFe3−xO4; Magnetism;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

XPS study of photo- and thermally-induced changes in amorphous GexAs40−xS60

Keywords: 82.80.P; 71.23.C; 79.60.H; X-ray photoelectron spectroscopy; Amorphous chalcogenides; Thin films;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Characterization of oxide layers on amorphous Zr-based alloys by Auger electron spectroscopy with sputter depth profiling

Keywords: 82.80.P; 82.80.F; 79.20.R; Auger spectroscopy; Electrochemical analysis; Sputtering;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Analysis of Mg-B compounds by means of Auger electron microprobe

Keywords: 61.16.M; 82.80.P; 84.70; 74.62.B; Auger-microscopy; Auger spectroscopy; Cables-superconducting; Chemical composition-superconductors;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

0.23 eV energy resolution obtained using a cold field-emission gun and a streak imaging technique

Keywords: 79.70; 07.77.K; 82.80.P; 61.16.B; Energy resolution; Field-emission electron gun; Fowler-Nordheim equation; Zero loss peak;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Thorn-like BN nanostructures

Keywords: 81.05.Y; 82.80.P; 52.75.R; A. Nanophase-materials; B. Chemical vapor deposition; E. Electron energy-loss spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Thermal diffusion of potassium on the modified iron surface

Keywords: 82.80.P; 68.35. F; Surface diffusion; Auger spectroscopy; Iron; Potassium;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

First nucleation steps of vanadium oxide thin films studied by XPS inelastic peak shape analysis

Keywords: 82.80.P; 81.15; XPS; Thin film; Growth mechanism; Vanadium oxide; Nucleation; XPS background analysis;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Adsorption of cyclic hydrocarbons on Pt and the interaction of the adsorbed species with hydrogen

Keywords: 82.65.−i; 82.65.Y; 82.80.P; Aromatic rings; π-Complex; Work function change; AES;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Corrosion behavior of carbon-implanted zircaloy-4 in 1 M H2SO4

Keywords: 81.65.K; 79.60; 82.80.P; 81.65.M; 82.80.F; Zircaloy-4; Corrosion resistance; Carbon ion implantation; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Auger electron spectroscopy (AES);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Substrate effects correction in Auger electron spectrometry and electron probe microanalysis of thin films

Keywords: 81.70.J; 82.80.P; 78.70.E; Electron probe microanalysis; Auger electron spectroscopy; Auger formalism; Characteristic fluorescence; Continuous fluorescence; Backscattering factor; Backscattering coefficient; Ionization function;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Independent component analysis: A new possibility for analysing series of electron energy loss spectra

Keywords: 02.50.Sk; 02.70.−c; 68.35.DV; 82.80.P; Electron energy loss spectroscopy; Independent component analysis; Blind separation of sources; Interface; Multivariate statistical analysis;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Extended defect related energy loss in CVD diamond revealed by spectrum imaging in a dedicated STEM

Keywords: 61.72.F; 82.80.P; 81.05.T; 71.15.Mb; Electron microscopy- dislocations and other defects; Electron energy loss spectroscopy; Synthetic diamonds; Electronic structure modelling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Cool-stacking injection and damping of a transverse ion-beam instability at the HIMAC synchrotron

Keywords: 82.80.P; 87.56; Cool-stacking; Coherent oscillations; RF-excitation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه