Keywords: پروفیل عمق حفاری; Metal/high-k stack; HfO2; Backside analysis; XPS; Auger depth profiling; ToF-SIMS;
مقالات ISI پروفیل عمق حفاری (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: پروفیل عمق حفاری; AES; SAM; Auger depth profiling; High spatial elemental resolution; High depth elemental resolution; Nanostructures;
3D Auger quantitative depth profiling of individual nanoscaled III-V heterostructures
Keywords: پروفیل عمق حفاری; 81.05.Ea; 81.07.St; 68.65.Fg; 68.37.Xy; MOSFETs; metal oxide semiconductor field effect transistors; QWFETs; quantum well field effect transistors; QW; quantum well; RSFs; relative sensitivity factors; AES; Auger electron spectroscopy; SIMS; secondary ion
Thermodynamics controls amorphous oxide formation: Exclusive formation of a stoichiometric amorphous (Al0.33Zr0.67)O1.83 phase upon thermal oxidation of Al-Zr
Keywords: پروفیل عمق حفاری; Oxidation; Amorphous oxide; Thermodynamics; Al-Zr; Auger depth profiling;
Investigation of interdiffusion in copper–nickel bilayer thin films
Keywords: پروفیل عمق حفاری; 61.10.Nz; 66.30.Ny; 79.60.DpDiffusion; Copper; Nickel; Thin films; Auger depth profiling
Studies of N-ion-implanted stainless steels oriented for industrial applications
Keywords: پروفیل عمق حفاری; Ion implantation; Wear resistance; Auger depth profiling; Nitrides formation;