Keywords: خاطرات فلش; Annealing; Flash memories; Heavy ions; Multiple cell upsets; Radiation effects;
مقالات ISI خاطرات فلش (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: خاطرات فلش; Flash memories; Soft error; Single event upset; Neutrons; Alpha particles;
Keywords: خاطرات فلش; Sensor networks; Flash memories; Indexing sensor data; Continuous queries
Impact of the array background pattern on cycling-induced threshold-voltage instabilities in nanoscale NAND Flash memories
Keywords: خاطرات فلش; Flash memories; Program/erase cycling; Charge detrapping; Semiconductor device modeling; Semiconductor device reliability
Design and optimization of adaptable BCH codecs for NAND flash memories
Keywords: خاطرات فلش; Flash memories; Error correcting codes; Memory testing; BCH codes
Reliability of charge trapping memories with high-k control dielectrics (Invited Paper)
Keywords: خاطرات فلش; Non-volatile memories; Flash memories; High-k; Interpoly dielectrics; Control dielectrics; Hafnium aluminate; HfAlO; Al2O3; HfO2; Silicon nanocrystals; SONOS; SANOS; Charge trap memory; Nitride trap memory; Retention
Dynamical modeling of transport in MOS structures containing silicon nanocrystals for memory applications
Keywords: خاطرات فلش; Silicon; Nanocrystals; Silicon nanocrystals; Transport modeling; Flash memories; Nonvolatile memories;
Statistical constraints in nanocrystal memory scaling
Keywords: خاطرات فلش; Flash memories; Nanocrystal memories; Semiconductor device modeling; Microelectronic scaling
Extraction of the floating-gate capacitive couplings for drain turn-on estimation in discrete-trap memories
Keywords: خاطرات فلش; Flash memories; Nanocrystal memories; Semiconductor device modeling; Capacitive coupling
Recent developments on Flash memory reliability
Keywords: خاطرات فلش; Flash memories; reliability estimation; reliability modeling; leakage currents; gate dielectrics;