کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10364703 | 871787 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Soft errors in floating gate memory cells: A review
ترجمه فارسی عنوان
اشتباهات نرم افزاری در سلولهای حافظه دروازه شناور: بررسی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
خاطرات فلش خطای نرم ناراحتی تنها رویداد، نوترونها، ذرات آلفا،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Soft errors due to neutrons and alpha particles are among the main threats for the reliability of digital circuits operating at terrestrial level. These kinds of errors are typically associated with SRAMs and latches or DRAMs, and less frequently with non-volatile memories. In this paper we review the studies on the response of NAND and NOR Flash memories to ionizing particles, focusing on both single-level and multi-level cell architectures, manufactured in technologies down to a feature size of 25Â nm. We discuss experimental error rates obtained with accelerated tests and identify the relative importance of neutron and alpha contributions. Technology scaling trends are finally discussed and modelled.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issue 1, January 2015, Pages 24-30
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issue 1, January 2015, Pages 24-30
نویسندگان
Marta Bagatin, Simone Gerardin,