دانلود مقالات ISI درباره پرتو یون متمرکز (FIB) + ترجمه فارسی

Nanoanalysis of very fine VN precipitates in steel

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); High strength low alloy (HSLA) steels; VN precipitates; Electron energy loss spectroscopy (EELS); Analytical electron microscopy; Focused ion beam (FIB)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

The impact of non-uniform channel layer growth on device characteristics in state of the Art Si/SiGe/Si p-metal oxide semiconductor field effect transistors

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); Transmission electron microscopy (TEM); Metal oxide semiconductor structure (MOS); Germanium; Growth mechanism; Focused ion beam (FIB)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Bottom-up sample preparation technique for interfacial characterization of vertically aligned carbon nanofibers

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); 06.60.Ei; 68.37.−d; 68.37.Lp; Carbon nanofiber; Interconnect; Sample preparation; Focused ion beam (FIB); Scanning transmission electron microscopy (STEM);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Zr–Si–N films fabricated using hybrid cathodic arc and chemical vapour deposition: Structure vs. properties

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); Zirconium nitride; Nanocomposites; Focused ion beam (FIB); Transmission electron microscopy (TEM); Hard coatings

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

FIB, TEM and LA–ICPMS investigations on melt inclusions in Martian meteorites—Analytical capabilities and geochemical insights

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); Focused ion beam (FIB); Transmission electron microscopy (TEM); Laser ablation–inductively coupled plasma mass spectrometry (LA–ICPMS); Melt inclusions; Shergotty Nakhla Chassigny (SNC) meteorites

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

New physical techniques for IC functional analysis of on-chip devices and interconnects

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); 85.40.Qx; 79.60; 52.50.Jm; Failure analysis through chip backside; Photon emission; PICA; Thermal laser stimulation (TLS); Soft defect localization (SDL); OBIRCH; TIVA; LADA; Circuit edit; Focused ion beam (FIB);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Submicron-scale patterns on ferromagnetic-antiferromagnetic Fe/NiO layers by focused ion beam (FIB) milling

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); 85.40.H; 75.70.−I; Focused ion beam (FIB); Ion-beam lithography; Ferromagnetic/antiferromagnetic layers; Surface swelling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Reversible orientation-biased grain growth in thin metal films induced by a focused ion beam

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); Implantation; Thin films; Grain growth; Focused ion beam (FIB); Channeling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Deformation and fracture of Ti-Si-N nanocomposite films

Keywords: پرتو یون متمرکز (FIB); Transmission electron microscopy (TEM); Focused ion beam (FIB); Nanostructures; Titanium nitride (TiN);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه