Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; Ion beam enhanced etching; Silicon dioxide; Helium ion microscope; Radiation-induced defects;
مقالات ISI میکروسکوپ یون هلیوم (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; BSE; Backscattered electron; HeIM; Helium ion microscope; Organic photovoltaics; Morphology; Backscattered electrons; Polymers; Scanning electron microscopy;
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; Helium ion microscope; Time of flight; Elemental analysis; Backscattering spectrometry; Neutral impact-collision ion scattering spectrometry; Secondary ion mass spectrometry;
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; Ion beam enhanced etching; Ion implantation; Helium ion microscope; Silicon nitride
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; Monte Carlo simulation; Secondary electron emission; Insulator; Charging; Scanning ion microscope; Helium ion microscope; Scanning electron microscope;
Helium ion beam lithography on fullerene molecular resists for sub-10Â nm patterning
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; Helium ion beam lithography; Helium ion microscope; Fullerene; Molecular resist; Nanolithography; Next-generation lithography;
Sub-10 nm patterning by focused He-ion beam milling for fabrication of downscaled graphene nano devices
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; Helium ion microscope; Graphene; Nanofabrication; Lithography; Nanoelectronics; Helium ion beam milling; Graphene quantum dot devices; Graphene downscaled nano devices
Position-controlled marker formation by helium ion microscope for aligning a TEM tomographic tilt series
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; Transmission electron microscope; Nano-dot; Ion beam; Helium ion microscope; Electron tomography;
Carbon nanomembranes from self-assembled monolayers: Functional surfaces without bulk
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; ABPT; aminobiphenylthiol; AFM; atomic force microscope; AMBPT; (4â²-azomethylmalonodinitrile)-1,1â²-biphenyl-4-thiol; B1BPT; bis-1,1-biphenylthiol; B4BPT; bis-4,4-biphenylthiol; BBDS; bisbiphenyl-disulfanyl; BBPDT; bisbiphenylene-dithiol; BE; binding en
The neon gas field ion source—a first characterization of neon nanomachining properties
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; FIB; GFIS; Nanomachining; Nano-fabrication; Focused ion beam; Helium ion microscope; HIM; Circuit edit
Comparison of secondary electron emission in helium ion microscope with gallium ion and electron microscopes
Keywords: میکروسکوپ یون هلیوم; 79.20.Ap; 79.20.RfScanning ion microscopy; Helium ion microscope; Topographic contrast; Voltage contrast; Secondary electron emission