میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا

در این صفحه تعداد 182 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا; α-Tricalcium phosphate; β-Tricalcium phosphate; Decomposition; Calcium oxide; X-ray diffraction; High-resolution transmission electron microscopy; Electron diffraction; Image processing and simulation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا; Nano-holes in the graphene plane; High-resolution transmission electron microscopy; Basal plane of graphite; Passing of Li through nano-holes in graphene plane; Electrochemical performance of graphite anode
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا; High-resolution transmission electron microscopy; Monte Carlo simulation; Nanostructure; Ti–Bx–Ny thin films; Twinning deformation
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا; Hydrogen chemisorption; H/M method; High-resolution transmission electron microscopy; Particle size determination; Metal-support interaction; Support ionicity;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا; 42.30.Rx; 42.30.Va; 42.15.Fr; 68.37.Lp; High-resolution transmission electron microscopy; Exit wave reconstruction; Three-dimensional Fourier filtering method; Spherical aberration correction; Illumination divergence correction;