Keywords: نقص خط; Discrete Sources Method; Numerical scheme; Light scattering; Fictitious particle; Line defects;
مقالات ISI نقص خط (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: نقص خط; Computer simulation; Line defects; Stresses; Semiconducting silicon;
Keywords: نقص خط; Brillouin light scattering; Antidot; Line defects; Spin waves
Spatial distribution of structural defects in Cz-seeded directionally solidified silicon ingots: An etch pit study
Keywords: نقص خط; Line defects; Solidification; Seed crystals; Industrial solidification; Silicon; Solar cells;
In-situ growth mode control of AlN on SiC substrate by sublimation closed space technique
Keywords: نقص خط; A1. Interfaces; Crystal morphology; Line defects; A2. Growth from vapor; B1. Nitrides;
Study towards integration of In0.53Ga0.47As on 300Â mm Si for CMOS sub-7Â nm node: Development of thin graded InxGa1âxAs buffers on GaAs
Keywords: نقص خط; Line defects; Graded buffers; Metalorganic vapor phase epitaxy; InGaAs; Semiconducting III-V materials;
Role of edge dehydrogenation in magnetization and spin transport of zigzag graphene nanoribbons with line defects
Keywords: نقص خط; First-principles calculation; Graphene nanoribbons; Line defects; Edge dehydrogenation; Spin-filter effect;
Homogenization of composite vicinal surfaces: Evolution laws in 1+1 dimensions
Keywords: نقص خط; Crystal surface; Burton-Cabrera-Frank (BCF) model; Line defects; Diffusion; Macroscopic limit; Multiscale expansion;
Helmholtz equation in periodic media with a line defect
Keywords: نقص خط; Exact-boundary conditions; Helmholtz equation; Unbounded media; Unbounded defects; Line defects
Nanoscale precipitates in magnetostrictive Fe1−xGax alloys for 0.1 < x < 0.23
Keywords: نقص خط; Galfenol alloys; Magnetostrictive alloys; High resolution transmission microscopy; Line defects