![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: پراش الکترونی انرژی پایین; AFM; atomic force microscopy; AIL; artificial inorganic leaf; AM; air mass coefficient (measure of solar irradiation); APD; arc plasma deposition; ATR-FTIR; attenuated total reflectance Fourier transformed infrared spectroscopy; BE; binding energy; BET; B