![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Deep-level transient spectroscopy characterization of electrical traps in p-type multicrystalline silicon with gettering and hydrogenation process
Keywords: فتوشاپ فتوشاپ; Multicrystalline silicon; Electrical traps; Phosphorus gettering; Hydrogenation;