![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: پیروکسیکام; CSD; Cambridge Structural Database; FT-Raman; Fourier-transform Raman spectroscopy; LF-785; low-frequency Raman with 785Â nm excitation; LF-830; low-frequency Raman with 830Â nm excitation; PLSR; partial least squares regression; RMSEE; root-mean square e