![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Study of the effect of annealing process on the performance of P3HT/PCBM photovoltaic devices using scanning-probe microscopy
Keywords: اسکن میکروسکوپ نزدیک به میدان; Photovoltaic; Scanning near-field microscopy; Atomic force microscopy; Anneal process