آشنایی با موضوع

میکروسکوپ تونلی روبشی (به انگلیسی: STM: Scanning tunneling microscope) گونه ای میکروسکوپ پراب روبشی است که براساس روبش سطح رسانا به وسیله نوک بسیار باریک (در حد چند نانومتر ) و تغییر در میزان جریان عبوری برحسب فاصله کار می کند. با این میکروسکوپ(به میکروسکوپ می توان نحوه آرایش اتم ها در سطح شبکه را به تصویر کشید. به عبارت دیگر تصویر ایجاد شده نشان دهنده آرایش فضایی نوار رسانش فلز یا نیمه هادی است. برای ایجاد تصاویر سه بعدی از سطوح مواد با دقت اتمی و تفکیک پذیری بالا استفاده می شود. با این میکروسکوپ می توان نحوه آرایش اتم ها در سطح شبکه مواد رسانا، فلزات و نیمه هادی ها را به تصویر کشید. این میکروسکوپ قابلیت ارائه تصاویر دو بعدی و سه بعدی در ابعاد نانومتری را دارد. دانشمندان توانسته اند با میکروسکوپ تونلی روبشی چیدمان اتم های روی سطح را تغییر دهند و از مولکول های کوچک تصویربرداری کنند. مبنای تشکیل تصویر در این میکروسکوپ، جریان الکتریکی ایجاد شده بین سطح و سوزن است، بنابراین از آن تنها برای تصویر برداری از نمونه های دارای هدایت الکتریکی استفاده می شود. در این نوع میکروسکوپ از یک سوزن هادی الکتریسیسته برای انتقال جریان بین نمونه و سوزن استفاده می شود. سوزن به سطح نمونه نمی چسبد اما در فواصل بسیار نزدیک از سطح نمونه قرار دارد. زمانی که فاصله سوزن و نمونه کمتر از 1 نانومتر می شود، با اعمال ولتاژی بین 5 تا 5- ولت بین نوک سوزن و سطح نمونه، الکترون ها از فضای بین نمونه و سوزن جریان پیدا می کنند. بر حسب ولتاژ اعمالی این جریان می تواند از سوزن به نمونه و برعکس انتقال یابد. تاریخچه اختراع میکروسکوپ تونلی روبشی در سال 1982 توسط بنیگ (G. Bennig) و روهرر (H. Rohrer) بود که جایزه نوبل فیزیک در سال 1986 برای این اختراع به آنان اختصاص یافت. اولین و مهم‌ترین شاخه‌ای که از میکروسکوپ تونلی روبشی توسعه یافت، میکروسکوپ نیرویی روبشی (به انگلیسی: SFM: Scanning Force microscope) بود که در سال 1986 توسط بنیگ (Binnig)، کوئت (Quate) و گربر (Gerber) اختراع شد. میکروسکوپ نیرویی روبشی اصولاً قادر به تعیین توپوگرافی انواع سطوح، شامل هادی و غیرهادی، می‌باشد. بر مبنای این فرض که در این دستگاه، نیروهای بین اتم‌های نوک سوزن و اتم‌های سطح نمونه، قدرت تفکیک آن را تعیین می‌کنند، معمولاً آن را میکروسکوپ نیروی اتمی (به انگلیسی: AFM: atomic force microscope) می‌نامند.
در این صفحه تعداد 3046 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ تونلی روبشی که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI میکروسکوپ تونلی روبشی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ تونلی روبشی ; AFM; atomic force microscopy; cAFM; conductive atomic force microscopy; CNT; carbon nanotube; 2DEG; two-dimensional electron gas; DPN; dip-pen nanolithography; EDPN; electrochemical dip-pen nanolithography; F-N; Fowler-Nordheim; HMDS; hexamethyldisila
دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 48 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه