دانلود مقالات ISI درباره انتشار الکترونی ثانویه + ترجمه فارسی
Secondary Electron Emission
انتشار الکترونی ثانویه
در این صفحه تعداد 175 مقاله تخصصی درباره انتشار الکترونی ثانویه که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید. در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI انتشار الکترونی ثانویه (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند. در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; Secondary electron emission; Doubly differential cross section; Stopping power; Extended Friedel sum rule; Charge states
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; Secondary electron emission; Surface trapped charges; Recombination and trapping cross; Section; Alumina insulator, Electron irradiation;
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; Monte Carlo simulation; Secondary electron emission; Insulator; Charging; Scanning ion microscope; Helium ion microscope; Scanning electron microscope;
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; DFT simulation; Electron affinity; Silicon nitride; Alkali metal termination; Secondary electron emission; Photon detector
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; Contrast; Focused ion beam; Ion microscopy; Resolution; Secondary electron emission; Signal-to-noise ratio; Sputtering;
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; 79.20Hx; 61.16Bg; 73.23.Ps; 73.30.+y; 81.05.ât; Secondary electron emission; Spectral and angular distribution of secondary electrons; Scanning electron microscopy; Contamination effect; Crystalline contrast; Thin films;
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; Secondary electron emission; Scanning electron microscopy; Image simulation; Material and doping contrast; Semiconductors and semiconducting devices
Keywords: انتشار الکترونی ثانویه; 79.20.Ap; 79.20.RfScanning ion microscopy; Helium ion microscope; Topographic contrast; Voltage contrast; Secondary electron emission