کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672527 1009916 2011 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Simulation of ion imaging: Sputtering, contrast, noise
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Simulation of ion imaging: Sputtering, contrast, noise
چکیده انگلیسی
► In this article, an algorithm is proposed to simulate ion images. ► Focus is on: sputtering, secondary electron yield, noise ions and secondaries. ► The detection noise is not negligible in ion microscopy. ► The sputtering pattern must be taken into account when evaluating the resolution. ► The distinctive SE yield explains the high resolution of He-FIBs.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 982-994
نویسندگان
, , ,