کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672527 | 1009916 | 2011 | 13 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Simulation of ion imaging: Sputtering, contrast, noise
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠In this article, an algorithm is proposed to simulate ion images. ⺠Focus is on: sputtering, secondary electron yield, noise ions and secondaries. ⺠The detection noise is not negligible in ion microscopy. ⺠The sputtering pattern must be taken into account when evaluating the resolution. ⺠The distinctive SE yield explains the high resolution of He-FIBs.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 982-994
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 982-994
نویسندگان
V. Castaldo, C.W. Hagen, P. Kruit,