Keywords: تانوس; Reliability; Soft program; TANOS; Blocking oxide
مقالات ISI تانوس (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Compact modeling of TANOS program/erase operations for SPICE-like circuit simulations
Keywords: تانوس; TANOS; Charge-trapping memory; Compact modeling; Nitride-based trapping storage; Flash memory; Electron device simulation
Effect of high temperature annealing on tunnel oxide properties in TANOS devices
Keywords: تانوس; TANOS; High temperature PDA; Intermixing
Influence of metal gate and capping film stress on TANOS cell performance
Keywords: تانوس; Charge trapping; Flash memory; TANOS
Charge-based nonvolatile memory: Near the end of the roadmap?
Keywords: تانوس; Flash; Memory; Floating gate; Charge trap flash; TANOS; RRAM
Charge transport in high-κ stacks for charge-trapping memory applications: A modeling perspective (invited)
Keywords: تانوس; Charge-trapping devices; High-κ dielectrics; Reliability; Device physics; TANOS; Device modeling
Investigation of charge-trap memories with AlN based band engineered storage layers
Keywords: تانوس; Charge-trap memories; TANOS; MANOS; AlN; Engineered charge trapping layer; Reliability;
Rare-earth aluminates as a charge trapping materials for NAND flash memories: Integration and electrical evaluation
Keywords: تانوس; Flash; TANOS; Memory; Alternative trapping materials; Rare-earth aluminates;
Cycling degradation in TANOS stack
Keywords: تانوس; TANOS; Cycling; Reliability; Dielectrics