کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10268820 | 459687 | 2011 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Scanning electrochemical microscopy studies of micropatterned copper sulfide (CuxS) thin films fabricated by a wet chemistry method
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
مهندسی شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Copper sulfide (CuxS) microstructures on Si wafer has been prepared using a wet chemistry method. ⺠To obtain high quality CuxS films, preparative conditions were optimized. Scanning electrochemical microscopy (SECM) was employed to examine the properties of the CuxS films. ⺠The apparent electron-transfer rate constant (k) of CuxS surface was estimated as 0.04 cm/s. ⺠The SECM current map showed high edge acuity of the micro-patterned CuxS.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Electrochimica Acta - Volume 56, Issue 14, 30 May 2011, Pages 5016-5021
Journal: Electrochimica Acta - Volume 56, Issue 14, 30 May 2011, Pages 5016-5021
نویسندگان
Miao Chen, Jing Zhao, Xiaocui Zhao,